自動化檢測系統
自動化穿透率／NIST光功率／CIE色度／可變角度反射率／螢光發光材料之檢測系統，係針對光電、生技、醫學產業，所開發的品管操作系統，本系統可依照客戶需求，提供訂製品管畫面。主要應用於相機光學濾光鏡片、PDP面板導電玻璃、晶圓片、背投影電視、投影機、TFT-LCD、顯微鏡鏡頭、LCD、觸控面板、PDA、醫學檢驗、生物晶片、生化、癌症檢驗、化學化工等領域，進行穿透率／NIST光功率／CIE色度／可變角度反射率／螢光發光樣品之自動檢測工作。新型專利申請字號：091212148、091214285和09121227。
自動化品管軟體說明: 自動化品管，最大致命傷，就是品管數值不穩定， 無法達到大量出貨目標和ISO認證， 誤差來自步距馬達振動，光纖振動，電壓不穩，光徑不對焦，燈源老化等等，時時威脅品管人員.當您使用品管軟體，可以確保品管數值非常穩定，不會擔心客訴問題、退貨問題、合約賠償問題、信用問題。
一、系統標準規格
1. 自動化X –Y table：(可以擴充到4軸或6軸，自動送/退樣品架)
樣品架: (標準)放兩片80*88 mm 鍍膜片(外加一組不同樣品架)
任意形狀X –Y路徑(最大範圍<機械臂工作距離)，每一個樣品任意點
Robot controller
AC? Servo motor output |
110 V、30 W |
Repeatability? ＊重複性 |
±0.01(mm) |
Effective stroke? 有效工作範圍 |
200 mm |
200 mm |
2. 陣列式分光光譜儀：
Detector range |
200 - 1100 nm 或其它範圍 |
Detector |
2048 element linear silicon CCD array或其它範圍 |
Optical resolution |
~1.38 nm FWHM或其它範圍 |
3. 光源：
鹵素燈Spectral range 360nm – 2000 nm
Time to stabilized output 約30 minutes
4. 光纖 × 2、光纖轉平行光鏡片組 × 2
5. 再現性：(一個樣品重複測試十次)
針對Y軸穿透率T50之波長及X軸波長440－600 間之最小穿透率值，求其相對誤差。
T50之X軸波長 : 誤差值小於0.5 %
Y軸之穿透率T% : 誤差值小於 1.0 %
二、3點鎖定校正功能：可以對空氣、美國國家標準局NIST標準片、客戶自訂標準樣品校正，進行波長、穿透率校正，不論客戶使用任何廠牌UV/VIS光譜儀，本公司保證X軸波長、Y軸穿透率誤差，小於1.0 %。
三、穿透率漂移監測:
長久時間操作，容易使Y軸穿透率漂移，讓操作員不知覺中，做出錯誤報告，時時威脅公司品管和信譽。本公司訂製軟體，特別提供對空氣，做漂移監測。當操作員發現穿透率漂移，超過1.5%時，立即按Reset，系統立即恢復標準值。
四、穿透率8波段品管分析：
可依照客戶品管需求，做品管分析，波段分析，可以輸入選定波長範圍，做穿透率數值之平均，最大，最小等分析和判讀，及一夾樣品中，最低值、最高值分析. 當發現不合格樣品, 可以啟動喇叭警告。(如圖二所示)
四、分析結果檢視、儲存、列印：。(如圖三所示)
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