分子螢光光譜儀PL/PLE/EL(Y座標uwatt/cm2/nm)
可測發光效率、變溫電磁攪拌應用
高瓦數氙燈光源/另附單色選光器
UV/VIS穿透率、吸收值、可變角度反射率
反射率膜厚測量
Micro-spot顯微鏡偵測系統-凹凸透鏡反射率測量、穿透率、CIE色彩分析
同時測量電壓/電流之LED顏色/亮度
光譜式輝度計(Nit、Cd/㎡)、光功率照度計NIST traceable
霧度計Haze
CIE色彩分析
旋光光譜儀Circular Dichroism
HPLC 3D螢光/UV/VIS偵測器
半/全自動化分析
18 options in one CCD array Spectrometer from Ocean Optics
Fluorescent Spectrometer PL/EL/PLE (uwatt/cm2/nm)
Quantum yield, variable temperature with stir, PMT detector, LASER, High power Xenon lamp, Monocromator
UV/VIS Transmission, Absorbance, Variable angle reflectance,
Interference Reflectance software (Calculate thickness)
Micro-spot Microscope system-measure convex/concavo lens--reflectance, transmission,CIE Color analysis
Simultaneous measurement of Voltage/Current, Color, Luminance, Spectral luminance meter (Nit, Cd/m^2),
Haze, Lux meter/NIST traceable, CIE Color analysis,Circular Dichroism
(CD),
HPLC 3D flurescense/UV/VIS Detector,
Half/Full Automatic analysis.
已通過証書號數:M253766,公告日:93年12月21日/新型名稱:改良式線性陣列式CCD分子螢光光譜儀
已通過証書號數:M254589,新型名稱:改良式單光束穿透率之線性陣列式CCD自動化分光光譜儀
已通過証書號數:M259906,新型名稱: 計算發光材料效率之線性陣列式CCD分子螢光光譜儀
多項專利申請中,執行完成經濟部中小企業兩期研發計划,與國家簽約,共同擁有此商業機密,請勿任意抄襲
許多應用資料,歡迎上網查詢﹛
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